产品概要： 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。 该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器。近几年，每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量，测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜，也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。