霍尔效应测试仪主要由恒定电流源，范德堡定律终端转换器，低温（77K）测量系统和磁场强度输入系统组成。它具有用于研究半导体材料的霍尔效应的所有组件和配置。它是一套非常成熟的仪器系统。

   霍尔效应测试仪主要用于测量重要参数，例如载流子浓度，迁移率，电阻率和半导体材料的霍尔系数。必须事先控制这些参数，以了解半导体材料的电特性。因此，霍尔效应测试仪是可以理解的，并且是研究半导体器件和半导体材料的电性能的必备工具。可测试材料：半导体材料：SiGe，SiC，InAs，InGaAs，InP，AlGaAs，和铁氧体材料等；低阻抗材料：石墨烯，金属，透明氧化物，弱磁半导体材料，TMR材料等；高阻抗材料：半绝缘GaAs，GaN，CdTe等。

  1.可靠的准确性和可重复性。恒流源采用六电平电流范围设置，以最大程度地减少可接收的误差； Van der Pauw的规则转换使用非接触式设备来有效降低仪器噪声。软件和硬件经过专门设计，以确保每个实验数据都是多次。测试的平均值使仪器具有很好的数据可重复性。

  2.产品小型化，操作简单。小型磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统（77K），以确保仪器操作非常简单； 两种不同尺寸的传统样品板（20 * 20mm，6 * 6mm）可制成不同尺寸和不同材料的薄膜。样品更易于测量。

  3.各种实验结果。霍尔效应测试仪实验结果由软件自动计算，可以同时获得载流子浓度，表面载流子浓度，迁移率，电阻率，霍尔系数等。